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Cypress Semiconductor CY7C1386F Manual de usuario Pagina 17

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CY7C1386D, CY7C1386F
CY7C1387D, CY7C1387F
Document Number: 38-05545 Rev. *H Page 17 of 36
3.3 V TAP AC Test Conditions
Input pulse levels ...............................................V
SS
to 3.3 V
Input rise and fall times ...................................................1 ns
Input timing reference levels ......................................... 1.5 V
Output reference levels ................................................ 1.5 V
Test load termination supply voltage ............................ 1.5 V
3.3 V TAP AC Output Load Equivalent
2.5 V TAP AC Test Conditions
Input pulse levels ...............................................V
SS
to 2.5 V
Input rise and fall time ....................................................1 ns
Input timing reference levels ....................................... 1.25 V
Output reference levels .............................................. 1.25 V
Test load termination supply voltage .......................... 1.25 V
2.5 V TAP AC Output Load Equivalent
TDO
1.5V
20pF
Z = 50 Ω
O
50Ω
TDO
1.25V
20pF
Z = 50 Ω
O
50Ω
TAP DC Electrical Characteristics and Operating Conditions
(0 °C < T
A
< +70 °C; V
DD
= 3.3 V ± 0.165 V unless otherwise noted)
Parameter
[15]
Description Test Conditions Min Max Unit
V
OH1
Output HIGH voltage I
OH
= –4.0 mA, V
DDQ
= 3.3 V 2.4 – V
I
OH
= –1.0 mA, V
DDQ
= 2.5 V 2.0 – V
V
OH2
Output HIGH voltage I
OH
= –100 µA V
DDQ
= 3.3 V 2.9 – V
V
DDQ
= 2.5 V 2.1 – V
V
OL1
Output LOW voltage I
OL
= 8.0 mA, V
DDQ
= 3.3 V – 0.4 V
I
OL
= 8.0 mA, V
DDQ
= 2.5 V – 0.4 V
V
OL2
Output LOW voltage I
OL
= 100 µA V
DDQ
= 3.3 V – 0.2 V
V
DDQ
= 2.5 V – 0.2 V
V
IH
Input HIGH voltage V
DDQ
= 3.3 V 2.0 V
DD
+ 0.3 V
V
DDQ
= 2.5 V 1.7 V
DD
+ 0.3 V
V
IL
Input LOW voltage V
DDQ
= 3.3 V –0.5 0.7 V
V
DDQ
= 2.5 V –0.3 0.7 V
I
X
Input load current GND < V
IN
< V
DDQ
–5 5 µA
Note
15. All voltages referenced to V
SS
(GND).
[+] Feedback
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